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Herrmann, Daniel


Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) = Goal-oriented methodologies to pass the European Qualifying Examination (EQE)


Patentrechtliche Grundlagen für Teile A, B, C, D = Principles of patent law for parts A, B, C, D

C.H. Beck
1. Aufl. 2017
   
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978-3-406-70789-6
01.04.20 Europäisches Patentrecht, EPÜ, Gebrauchsmusterrecht, Geschmacksmusterrecht
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Der perfekte Begleiter für die Europäische Eignungsprüfung (EEP).

Alles drin, was Sie brauchen
Für alle Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D.
Alle prüfungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt:

- Schritt-für-Schritt Vorgehensweisen
- Zeitangaben pro Bearbeitungsschritt
- Details der Punktevergabe
- Prüfungsschemata für patentrechtliche Fragen
- Formulierungsvorschläge und ganze Textpassagen
- Tabellen als Bearbeitungshilfen
- Praktische Tipps für die Prüfung

Besonders hilfreich: Immer dort, wo es für die Methodiken nötig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erläutert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Prüfungsrichtlinien verwiesen.